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分辨率测试卡

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正弦西门子星

更新:2012-12-15浏览:

对比双曲锲形位置变化不是很敏感。允许测量各个角度的高分辨率,包括垂直、水平、矢状面和切向面。

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产品介绍


允许从任何点在这个圆的周长上多个目标的MTF测量样品。

分辨率测量可以用Imatest的星图模块进行。

不如Edge-SFR分析有些图形理敏感。

可以改善一些测量重复性噪音。

比较低对比度垂直+水平倾斜的边缘。

对比双曲锲形位置变化不是很敏感。

允许测量各个角度的高分辨率,包括垂直、水平、矢状面和切向面。

自动检测登记标志图案。

尺寸

尺寸选项

国际标准单位

纸张大小

1x

250 mm × 333.33 mm

9.84" × 13.11"

1.5x

375 mm × 500 mm

14.76" × 19.66"

2x

500 mm × 666.67 mm

19.69" × 26.22"

3x

750 mm × 1000 mm

29.53" × 39.34"

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