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混叠测试图走样畸变测试卡

更新:2017-03-01 浏览:

TE173专门用于测量走样。混叠效应是两个位图的波纹扭曲造成的干扰。

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产品介绍


TE173专门用于测量走样。混叠效应是两个位图的波纹扭曲造成的干扰。独立于类型的相机混叠效应会产生干扰的动机如位图和电视行结构。众所周知的百叶帘效果或纺织品条纹图案。

 

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